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bruker Dektak Pro臺階儀介紹
BrukerDektakPro布魯克臺階儀DektakPro™以其多功能,使用的便捷性和在薄膜厚度、臺階高度、應力、表面粗糙度和晶圓翹曲測量方面廣受贊許。第十一代Dektak®系統(tǒng),具有4?重復性的表現(xiàn),并提供200毫米平臺選項,在科研以及工業(yè)領(lǐng)域中可以為材料的表面形貌提供各種分析。DektakPro在表面測量方面設立了新的目標,是微電子......
等離子去膠機是一種常用于半導體、電子、光學和精密機械制造等行業(yè)的設備,主要用于去除工件表面的有機物。為了確保其正常運行和長期使用,需要進行適當?shù)木S護保養(yǎng)。等離子去膠機的維護保養(yǎng)方法:1.定期清潔:定期對其進行清潔是非常重要的。在操作前應先關(guān)閉電源并拆卸外殼,用軟布或刷子清除內(nèi)部雜質(zhì),并檢查高壓電極是否磨損或受損。按照設......
一、控制:WindowsPC人機交互操軟件,多種語言(含中文),用戶密碼登陸管理權(quán)限,工藝二維折線圖實時顯示,一鍵回復原廠設置,數(shù)據(jù)備份與還原功能,數(shù)據(jù)自動存儲和導入導出功能,可儲存100套工藝參數(shù)二、原料:沉積ParyleneN、C、F-VT4型三、沉積厚度:0.05~30um四、沉積室直徑300mm,深度300mm......
原子力顯微鏡(AtomicForceMicroscope,AFM),一種可用來研究包括導體、半導體和絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它的橫向分辨率可達0.15m,而縱向分辨率可達0.05m,AFM最大的特點是可以測量表面原子之間的力,AFM可測量的最小力的量級為10-14-10-16N。AFM還可以測量表面的彈......
賽默飛X射線衍射儀是一種實驗室中常用的分析儀器,廣泛應用于材料分析、結(jié)構(gòu)研究等領(lǐng)域。使用時進行實驗需要注意實驗條件的選擇、樣品制備的方法、實驗操作的技巧以及對數(shù)據(jù)的處理和分析。只有掌握了正確的方法和技巧,才能得到準確可靠的實驗結(jié)果。賽默飛X射線衍射儀的使用方法:首先,要選擇適當?shù)膶嶒灄l件。X射線衍射實驗需要使用高能的X......
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