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BrukerDektakPro布魯克臺階儀DektakPro™以其多功能,使用的便捷性和在薄膜厚度、臺階高度、應(yīng)力、表面粗糙度和晶圓翹曲測量方面廣受贊許。第十一代Dektak®系統(tǒng),具有4?重復(fù)性的表現(xiàn),并提供200毫米平臺選項(xiàng),在科研以及工業(yè)領(lǐng)域中可以為材料的表面形貌提供各種分析。DektakPro在表面測量方面設(shè)立了新的目標(biāo),是微電子......
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Bruker公司的AnasysnanoIR3型納米紅外光譜測量系統(tǒng),是一款基于原子力顯微鏡(AFM)的納米表征工具。其采用光熱誘導(dǎo)共振技術(shù)(PTIR,也稱AFM-IR),使紅外光譜的空間分辨率突破了光學(xué)衍射極限,提高至10納米級別。為揭示納米尺度下的表界面紅外光譜信息提供了可能。該技術(shù)曾榮獲2010年度美國R&D100......
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生物型原子力顯微鏡是一種專為生物學(xué)研究設(shè)計的原子力顯微鏡,具有高分辨率和高靈敏度的特點(diǎn),可以用于研究生物大分子的結(jié)構(gòu)和動態(tài)行為。以下是生物型原子力顯微鏡適用于一些應(yīng)用場景:1、細(xì)胞形態(tài)學(xué)研究:它可以對細(xì)胞表面進(jìn)行高分辨率成像,觀察細(xì)胞的形態(tài)、大小、表面粗糙度等參數(shù),有助于了解細(xì)胞生長和增殖的過程。2、膜生物學(xué)研究:膜是......
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測針校驗(yàn)原理輪廓儀的測針校驗(yàn)整個過程分為標(biāo)準(zhǔn)球的測量和段差量的測量兩個部分。(1)標(biāo)準(zhǔn)球的測量是為了補(bǔ)償測針J端R所產(chǎn)生的形狀誤差(由于測量數(shù)據(jù)是以J端R為半徑的圓心所對應(yīng)的數(shù)據(jù),因此與實(shí)際形狀不同,為了消除該誤差,設(shè)備利用在測量窗口的校正菜單設(shè)定的探針J端R對測量數(shù)據(jù)進(jìn)行修正);(2)段差量的測量則是為了進(jìn)行圓弧修正......
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1.請務(wù)必在避免超出規(guī)格許可范圍的溫度、濕度、水滴、塵埃、油煙、直射陽光、強(qiáng)烈沖擊、劇烈振動、腐蝕性氣體等環(huán)境中使用本儀器。否則可能會引起儀器故障而導(dǎo)致觸電,或引起儀器傾倒而導(dǎo)致人身傷害。2.安裝儀器所使用的支架相對儀器重量必須具有足夠的強(qiáng)度。另外還必須確保支架的穩(wěn)定性,否則可能會因儀器或支架的傾倒而導(dǎo)致人身傷害。3.......